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簡(jiǎn)要描述：光學(xué)共聚焦測(cè)試系統(tǒng)，一體化的低溫共聚焦測(cè)試解決方案，包含共聚焦顯微成像、拉曼光譜和磁光克爾功能模塊
產(chǎn)品型號(hào)：CFM廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-07-22訪 問(wèn) 量：1329產(chǎn)品分類(lèi)
PRODUCT詳細(xì)介紹
光學(xué)共聚焦測(cè)試系統(tǒng)
一體化的低溫共聚焦測(cè)試解決方案，包含共聚焦顯微成像、拉曼光譜和磁光克爾功能模塊
光學(xué)共聚焦測(cè)試系統(tǒng) 組件
系統(tǒng)組件 – 01. 可堆疊光學(xué)功能模塊
>> 熒光/拉曼光譜模塊
集成化的熒光/拉曼光譜測(cè)試光路，可直接安裝在共聚焦樣品桿上
產(chǎn)品亮點(diǎn)
– 基于光纖的共聚焦掃描測(cè)試，可?光纖芯徑: 4, 10, 25, 50, 100, 200 μm；
– 光學(xué)元件可更換以適用于不同波長(zhǎng)的應(yīng)用；
– Kohler 光照方式實(shí)現(xiàn)大面積/均勻的照明范圍 ΦFOV～30 μm；
– 集成了CMOS相機(jī)，具備Type-C接口；
– 1" 或 0.5" 光學(xué)元件可?動(dòng)旋轉(zhuǎn)安裝
>> 磁光克爾模塊
集成化的磁光克爾(MOKE)測(cè)試光路，可直接安裝在共聚焦樣品桿上
產(chǎn)品亮點(diǎn)
– ?套測(cè)試裝置可實(shí)現(xiàn)兩種表征方式：圖像襯度與PEM鎖相；
– PEM+鎖相實(shí)現(xiàn)超?精度單點(diǎn)測(cè)量；
– 寬場(chǎng)成像模式，調(diào)制模式提高了磁滯回線測(cè)量靈敏度
– 采用電機(jī)精確控制旋轉(zhuǎn)角度，精確對(duì)準(zhǔn)偏振片與PEM
>> 磁光克爾 – 光彈調(diào)制器PEM
緊湊的光彈調(diào)制器，可安裝至共聚焦模塊上使用，也可作為獨(dú)立器件
系統(tǒng)組件 – 02. 共聚焦樣品桿
系統(tǒng)組件 – 03. 低溫光學(xué)物鏡
系統(tǒng)組件 – 04. 樣品安裝
靈活方便的樣品安裝方式，實(shí)現(xiàn)光電聯(lián)合測(cè)試
系統(tǒng)組件 – 05. 納米運(yùn)動(dòng)單元
多場(chǎng)低溫科技（北京）有限公司于2017年正式運(yùn)營(yíng)，在2021年團(tuán)隊(duì)整體遷入懷柔科學(xué)城產(chǎn)業(yè)園；并且公司在2020年獲得高新技術(shù)企業(yè)資質(zhì)，2023年獲得北京市專(zhuān)精特新企業(yè)認(rèn)證。
多場(chǎng)科技積極推動(dòng)技術(shù)延伸，迅速發(fā)展出高水平的全環(huán)境超精密壓電運(yùn)動(dòng)控制以及綜合物性表征手段，形成了模塊化的全品類(lèi)超精密運(yùn)動(dòng)控制以及涵蓋力熱聲光電全方面的物性表征系列產(chǎn)品，并推出了融合多場(chǎng)先進(jìn)技術(shù)的綜合物性表征平臺(tái)等整體化解決方案。公司產(chǎn)品已服務(wù)于國(guó)內(nèi)外百余所高校及研究機(jī)構(gòu)。
產(chǎn)品咨詢(xún)
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